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有以下幾種腐蝕情況: ? 均勻覆蓋住整個(gè)表面的均勻腐蝕 ? 分布不均勻,且單個(gè)侵蝕區(qū)域較小、較深的點(diǎn)蝕(凹陷小坑) ? 沿著細(xì)長(zhǎng)晶粒方向?qū)訉油七M(jìn)的剝落腐蝕 ? 沿著晶粒邊緣生發(fā)的晶間腐蝕 |
? 儀器:要對(duì)材料的腐蝕情況進(jìn)行探測(cè),應(yīng)該選擇具有高增益和低漂移特性的儀器,而且在反射(發(fā)射-接收)模式下完成操作。低通濾波器(LPF)也是一個(gè)非常有用的功能,可以減少在使用某些探頭時(shí)或經(jīng)常在高增益設(shè)置中出現(xiàn)的背景噪聲。 ? 探頭:適合的探頭通常是直徑小于12毫米的反射點(diǎn)/面型探頭,雖然有時(shí)為了覆蓋較大的區(qū)域,也會(huì)使用直徑較大的探頭。特殊的低噪聲、高增益、反射型探頭專門為探測(cè)鋁合金中的腐蝕而設(shè)計(jì)。 ? 參考標(biāo)準(zhǔn)試塊:可以使用一種階梯楔塊型參考標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn),這個(gè)參考試塊需具有與被測(cè)區(qū)域相似的電導(dǎo)率和厚度。試塊上厚度減少了10%、20%和30%的階梯為校準(zhǔn)中常用的區(qū)域。 |
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對(duì)于這類檢測(cè),使用一個(gè)(與被測(cè)材料相同或相似的)參考標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn),試塊上需帶有代表5%、10%和20%厚度減薄的區(qū)域,因?yàn)檫@樣可以對(duì)材料中的淺層腐蝕進(jìn)行較好的評(píng)估(參見(jiàn)上圖) |
上圖中的阻抗圖表明由厚度減薄引起的出現(xiàn)在厚度曲線上的缺陷指示。腐蝕的評(píng)估通過(guò)比較不同的厚度讀數(shù)而完成。在使用標(biāo)準(zhǔn)試塊完成了校準(zhǔn)后,可能需要為被測(cè)材料重新平衡儀器,因?yàn)樾?zhǔn)試塊和被測(cè)材料的電導(dǎo)率會(huì)有所不同。增益不需要重新調(diào)整。 |
有限穿透方式 |
雙頻方式 |
變頻方式 |
這種檢測(cè)方式需要將穿透深度限制在第一層,從而可以避免氣隙所產(chǎn)生的任何會(huì)引起混亂的信號(hào)指示。這種方式的主要局限性是渦流的密度會(huì)在第一層的遠(yuǎn)端明顯降低,從而使渦流對(duì)腐蝕的靈敏度減少10%。幸運(yùn)的是,我們可以很容易地發(fā)現(xiàn)高于這個(gè)靈敏度水平的腐蝕情況。 |
要進(jìn)行這種檢測(cè),需要使用一臺(tái)雙頻儀器和一個(gè)具有較寬頻率范圍的探頭。雙頻方式使用兩個(gè)不同的頻率,以消除來(lái)自氣隙的信號(hào)。第二個(gè)頻率,雖然通常是兩倍的檢測(cè)頻率,但還是具備了檢測(cè)兩層材料的穿透能力。除了要使用常規(guī)類型的參考標(biāo)準(zhǔn)試塊,還需要使用一個(gè)可以充當(dāng)變化的氣隙的物件進(jìn)行校準(zhǔn)(這里使用紙片就可以),如圖4所示。 |
這種方式只用于測(cè)量。 在進(jìn)行測(cè)量之前,要使用一個(gè)能夠穿透兩層被測(cè)材料的頻率,完成探測(cè)操作。要做到這點(diǎn),需要加上材料的厚度,并使用標(biāo)準(zhǔn)的穿透深度(參見(jiàn)本文前面說(shuō)明的探測(cè)單層材料腐蝕缺陷的程序)。只要沒(méi)有探測(cè)到超出合格區(qū)域的信號(hào),就可以認(rèn)為材料結(jié)構(gòu)為合格。 |
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隨著頻率的增加,厚度指示會(huì)沿著順時(shí)針?lè)较蛞苿?dòng)。圖5表明探頭從雙層蒙皮區(qū)域(B)移動(dòng)到單層蒙皮區(qū)域時(shí)阻抗圖所出現(xiàn)的變化。后期,頻率會(huì)達(dá)到這種情況:缺陷指示變?yōu)樗椒较?,在兩點(diǎn)之間(B點(diǎn)和C點(diǎn))不會(huì)有垂直波幅差。 通常會(huì)為用戶提供一個(gè)表明厚度與檢測(cè)頻率關(guān)系的圖表。操作點(diǎn)對(duì)應(yīng)于約1.5倍的標(biāo)準(zhǔn)穿透深度(可以使用Nortec渦流滑動(dòng)規(guī)則功能計(jì)算操作點(diǎn)的位置)。 |
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辨別出可疑的區(qū)域后,在表面上小心地標(biāo)出腐蝕嚴(yán)重的位置,然后通過(guò)比較用作平衡點(diǎn)的已知合格區(qū)域,完成進(jìn)一步檢測(cè)。這個(gè)合格區(qū)域要盡可能靠近腐蝕區(qū)域,以避免出現(xiàn)其它變化情況(參見(jiàn)圖8)。在使用每個(gè)頻率進(jìn)行測(cè)量的步驟中,探頭都要在合格區(qū)域上得到平衡(并將提離信號(hào)設(shè)為水平方向),然后再將探頭放置在標(biāo)出的可疑位置上。 |
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使用第二個(gè)頻率(F2)探測(cè)到的氣隙信號(hào),要在波幅和相位上被盡量調(diào)整為接近使用第一個(gè)頻率獲得的信號(hào),然后再將兩個(gè)信號(hào)相減(F1-F2),以*大程度地減小氣隙信號(hào)(圖6)。盡管這種消除操作也會(huì)減小腐蝕信號(hào),但是減小后的腐蝕信號(hào)的相位和波幅仍然可以表現(xiàn)出可被發(fā)現(xiàn)的足夠差別。第二層遠(yuǎn)端的腐蝕也可以被探測(cè)到。要完成腐蝕嚴(yán)重程度的測(cè)量,需要將腐蝕情況與參考標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行比較。腐蝕信號(hào)指示與圖7中的信號(hào)相似。 |
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使用雙頻方式要注意的主要問(wèn)題是要非常仔細(xì)地進(jìn)行校準(zhǔn),而且校準(zhǔn)要花費(fèi)很多時(shí)間。與較厚的蒙皮相比,這種方式在測(cè)量薄層材料時(shí)效果更好。 |
當(dāng)頻率增加時(shí),可疑腐蝕點(diǎn)將在順時(shí)針?lè)较蛏弦苿?dòng)(參見(jiàn)圖9),直到這個(gè)點(diǎn)達(dá)到與平衡點(diǎn)相同的垂直波幅(這個(gè)點(diǎn)在提離線的右側(cè)并與提離線處于同一個(gè)水平)。 |
航空無(wú)損檢測(cè)手冊(cè)中的標(biāo)準(zhǔn)腐蝕探測(cè)程序使用這種方法進(jìn)行檢測(cè),而且使用帶有10%、20%和30%厚度減薄區(qū)域的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn)(上圖4)。希望獲得的顯示視圖如上圖5所示,圖中的水平增益降低了約6 dB。 由于蒙皮在額定厚度和電導(dǎo)率方面的變化,以及所用探頭的不同,還需要核查被測(cè)結(jié)構(gòu)對(duì)渦流的響應(yīng)。如前所述,這項(xiàng)工作要通過(guò)先將探頭放置在雙層區(qū)域,然后再將探頭放置在單層區(qū)域上完成。在兩種情況下,圖中的點(diǎn)應(yīng)該處于相同的垂直位置上,從而可保證來(lái)自第二層的干擾減小到非常低程度。增益不需要重新調(diào)整。 |
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注釋: 由于頻率增加時(shí)穿透能力會(huì)降低,因此要根據(jù)需求提高增益,以清楚地看到可疑的腐蝕信號(hào)。這種方式只依靠相位,因此波幅因素?zé)o關(guān)緊要。 如果需要,還可以使用這種方法估算第二層遠(yuǎn)端的厚度減薄程度,但是估算結(jié)果的準(zhǔn)確度還要取決于層間氣隙的一致性。 當(dāng)達(dá)到了*高頻率時(shí),需要在圖表中找到與這個(gè)頻率對(duì)應(yīng)的合格材料的剩余厚度。操作方式如下: ? 使用在1.5倍穿透深度設(shè)置的Nortec渦流滑動(dòng)規(guī)則,找到相應(yīng)的厚度。 ? 使用用于計(jì)算有限穿透方式的圖表,核查相應(yīng)的厚度。 |
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點(diǎn)探頭
點(diǎn)探頭用于發(fā)現(xiàn)材料表面以上和表面以下的缺陷。這類探頭較大的線圈直徑和低頻操作的特點(diǎn)不僅非常有利于掃查較大的區(qū)域,而且可以探測(cè)到更大尺寸的缺陷,可探測(cè)的缺陷尺寸一般相當(dāng)于探頭直徑的一半。 |
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