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TP200系統(tǒng)組件包括:? TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差)? TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)或LF(低測力) ? PI 200-3測頭接口 ? SCR200測針交換架 還有一種EO模塊(長過行程),過行程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護(hù)。 |
TP200 / TP200B測頭本體 |
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TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量,即使配用長測針時(shí)也不例外。 傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。 TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。 請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。 |
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TP200測針模塊 |
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測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭過行程保護(hù)功能。 有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的過行程測力。 |
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模塊 |
SF(標(biāo)準(zhǔn)測力) |
LF(低測力) |
EO(長過行程) |
應(yīng)用 |
一般使用 |
小直徑測球或必須使用*小測力的場合 |
額外過行程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退 |
注釋 |
測針*長可達(dá)100 mm,測球直徑 > 1 mm |
測球直徑小于1 mm |
與SF的過行程測力相同,測頭Z軸的額外過行程為8 mm |
SCR200交換架 |
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SCR200可以高速自動(dòng)交換多達(dá)六個(gè)TP200測針模塊。SCR200由獨(dú)自的測頭接口 --PI 200-3供電,并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測力相同的測針模塊。 |
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特點(diǎn):
? 應(yīng)變片技術(shù)具有無可比擬的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量 |
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